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Dram 颗粒测试夹具

将测试socket放在记忆体模组的板子上,可插在主机板或是测试机台测试晶片。   规格:   1Gx8   DDR III   FREQUENCY:Over 1333 MHz   SOCKET:μBGA FOR   ELPIDA/Micron/Infineon   SAMSUNG... ...

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LSI-SASZ芯片测试治具

基于显卡CPU芯片的定制,用于测试CPU(BGA)的好坏实用功能. 根据来板来料的具体情况,来选用何种材料定制上下压板及针板和探针.并根据具体测试情况来决定是否通过风扇散热,还是通过测试座头来散热,测试时候的... ...

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显卡芯片测试治具

产品特点及性能参数:   ※采用手动翻盖式结构,操作方便;   ※上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,IC的压力均匀,不移位;   ※探针的头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触,而不会损坏锡... ...

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